DIN 50433-2-1976 无机半导体材料的检验.第2部分:采用反射光影法测定单晶体取向

作者:标准资料网时间:2024-05-23 19:14:02 浏览:9276 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Testingofsemi-conductinginorganicmaterials;determiningtheorientationofsinglecrystalsbymeansofopticalreflectionfigure
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.第2部分:采用反射光影法测定单晶体取向
【标准号】:DIN50433-2-1976
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1976-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:锗;样本;硅;定义;垫圈;试验;表面;半导体
【英文主题词】:Definition;Definitions;Germanium;Samples;Semiconductors;Silicon;Surfaces;Testing;Washers
【摘要】:Testingofsemi-conductinginorganicmaterials;determiningtheorientationofsinglecrystalsbymeansofopticalreflectionfigureEssaidesmatériauxsemi-conducteursminéraux;déterminationdel'orientationdesmonocristauxparreflexionoptique
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语

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